文献
J-GLOBAL ID:200902157470884825
整理番号:96A0448663
走査型プローブ顕微鏡を用いたPbZr1-xTixO3薄膜における50nmの分極した分域の形成と観察
Formation and observation of 50 nm polarized domains in PbZr1-xTixO3 thin film using scanning probe microscope.
著者 (9件):
HIDAKA T
(Hewlett-Packard Lab., Kawasaki, JPN)
,
MARUYAMA T
(Hewlett-Packard Lab., Kawasaki, JPN)
,
SAITOH M
(Hewlett-Packard Lab., Kawasaki, JPN)
,
MIKOSHIBA N
(Hewlett-Packard Lab., Kawasaki, JPN)
,
SHIMIZU M
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
SHIOSAKI T
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
WILLS L A
(Hewlett-Packard Lab., California)
,
HISKES R
(Hewlett-Packard Lab., California)
,
AMANO J
(Hewlett-Packard Lab., California)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
68
号:
17
ページ:
2358-2359
発行年:
1996年04月22日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)