文献
J-GLOBAL ID:200902159038526198
整理番号:96A1010090
Si(111)表面上でのPb薄膜成長の初期段階のTOF-ICISSによる研究
The initial stage of Pb thin film growth on Si(111) surface studied by TOF-ICISS.
著者 (5件):
TANAKA Y
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
MORISHITA H
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
RYU J-T
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
KATAYAMA I
(Osaka Inst. Technol., Osaka, JPN)
,
OURA K
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
資料名:
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms
(Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms)
巻:
118
号:
1/4
ページ:
530-532
発行年:
1996年09月
JST資料番号:
H0899A
ISSN:
0168-583X
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)