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資料名：
巻： 19 号： 3 ページ： 82-92 発行年： 2002年05月
JST資料番号： B0007C ISSN： 0740-7475 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902159228160181
整理番号：02A0479480
VLSI回路の低電力試験の調査
Survey of Low-Power Testing of VLSI Circuits.
GIRARD P
(Lab. Informatics, Robotics and Microelectronics of Montpellier)
資料名：
IEEE Design & Test of Computers
(IEEE Design & Test of Computers)
巻： 19 号： 3 ページ： 82-92 発行年： 2002年05月
JST資料番号： B0007C ISSN： 0740-7475 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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