文献
J-GLOBAL ID:200902159415049529
整理番号:00A0345968
統計パターン認識 概観
Statistical Pattern Recognition: A Review.
著者 (3件):
JAIN A K
(Michigan State Univ., MI)
,
DUIN R P W
(Delft Univ. Technol., Delft, NLD)
,
MAO J
(IBM Almaden Res. Center, CA)
資料名:
IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence
(IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence)
巻:
22
号:
1
ページ:
4-37
発行年:
2000年01月
JST資料番号:
B0519B
ISSN:
0162-8828
CODEN:
ITPIDJ
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
解説
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)