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著者 (3件)：
資料名：
巻： 5 号： 4 ページ： 497-504 発行年： 1998年08月
JST資料番号： W0578A ISSN： 1070-9878 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902159984390484
整理番号：98A0998580
厚い絶縁試料の表面電荷測定の原理
Principle of Surface Charge Measurement for Thick Insulating Specimens.
TAKUMA T
(Kyoto Univ.)
,
YASHIMA M
(Central Res. Inst. Electric Power Ind., Tokyo, JPN)
,
KAWAMOTO T
(Central Res. Inst. Electric Power Ind., Tokyo, JPN)
資料名：
IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation
(IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation)
巻： 5 号： 4 ページ： 497-504 発行年： 1998年08月
JST資料番号： W0578A ISSN： 1070-9878 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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