文献
J-GLOBAL ID:200902160203785169
整理番号:00A0113469
RFスパッタリングで堆積したB4C薄膜の特性に対するイオン衝撃の影響
Effect of ion bombardment on the properties of B4C thin films deposited by RF sputtering.
著者 (4件):
LOUSA A
(Univ. Barcelona, Catalunya, ESP)
,
MARTINEZ E
(Univ. Barcelona, Catalunya, ESP)
,
ESTEVE J
(Univ. Barcelona, Catalunya, ESP)
,
PASCUAL E
(Univ. Barcelona, Catalunya, ESP)
資料名:
Thin Solid Films
(Thin Solid Films)
巻:
355/356
ページ:
210-213
発行年:
1999年11月
JST資料番号:
B0899A
ISSN:
0040-6090
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)