文献
J-GLOBAL ID:200902162571173818
整理番号:00A0826009
テレプレゼンスを基にした遠隔アクセス可能な集積回路試験設備の開発
Development of a Remotely Accessible Integrated Circuit Test Facility Based on Telepresence.
著者 (2件):
CHUNG E C
(Rochester Inst. Technol., NY)
,
TITUS A H
(Rochester Inst. Technol., NY)
資料名:
Conference Proceedings. IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference
(Conference Proceedings. IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference)
巻:
17th
号:
Vol.3
ページ:
1591-1595
発行年:
2000年
JST資料番号:
B0689B
ISSN:
1091-5281
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)