文献
J-GLOBAL ID:200902163441695134
整理番号:99A0894668
金属汚染Siダイオードへの放射線効果
Radiation Effect on Metal-Contaminated Si Diodes.
著者 (8件):
HAKATA T
(Kumamoto National Coll. Technol., Kumamoto, JPN)
,
OHYAMA H
(Kumamoto National Coll. Technol., Kumamoto, JPN)
,
KOBAYASHI K
(Kumamoto National Coll. Technol., Kumamoto, JPN)
,
SIMOEN E
(IMEC(Interuniv. Micro Electronics Center), Leuven, BEL)
,
CLAEYS C
(IMEC(Interuniv. Micro Electronics Center), Leuven, BEL)
,
TAKAMI Y
(Rikkyo Univ., Kanagawa, JPN)
,
SUNAGA H
(Takasaki JAERI(Japan Atomic Energy Res. Inst.), Gunma, JPN)
,
MIYAHARA K
(Kumamoto Univ., Kumamoto, JPN)
資料名:
Journal of the Korean Physical Society
(Journal of the Korean Physical Society)
巻:
35
号:
Supplementary (July 31)
ページ:
S84-S87
発行年:
1999年07月31日
JST資料番号:
T0357A
ISSN:
0374-4884
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
韓国 (KOR)
言語:
英語 (EN)