文献
J-GLOBAL ID:200902163517009510
整理番号:96A0941133
Phase Shifting Diffraction Interferometry for Measuring Extreme Ultraviolet Optics.
著者 (1件):
SOMMARGREN G E
(Univ. California, CA)
資料名:
OSA Trends in Optics and Photonics, Vol.4: Extreme Ultraviolet Lithography
(OSA Trends in Optics and Photonics, Vol.4: Extreme Ultraviolet Lithography)
ページ:
108-112
発行年:
1996年
JST資料番号:
K19960627
ISBN:
1-55752-435-1
資料種別:
会議録 (C)
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)