文献
J-GLOBAL ID:200902165123908920
整理番号:95A0176409
スピン分極低エネルギー電子回折によるXe吸着質層の構造研究 II (√<span style=text-decoration:overline>3</span>×√<span style=text-decoration:overline>3</span>)R30°-Xe/Pd(111)とXe/Pd(111)の‘希薄’相
Structure investigations of Xe-adsorbate layers by spin-polarized low-energy electron diffraction. II. (√<span style=text-decoration:overline>3</span>×√<span style=text-decoration:overline>3</span>)R30°-Xe/Pd(111) and the ‘dilute’ phase of Xe/Pd(111).
著者 (4件):
HILGERS G
(Univ. Bielefeld, Bielefeld, DEU)
,
POTTHOFF M
(Univ. Bielefeld, Bielefeld, DEU)
,
MUELLER N
(Univ. Bielefeld, Bielefeld, DEU)
,
HEINZMANN U
(Univ. Bielefeld, Bielefeld, DEU)
資料名:
Surface Science
(Surface Science)
巻:
322
号:
1/3
ページ:
207-220
発行年:
1995年01月01日
JST資料番号:
C0129B
ISSN:
0039-6028
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)