文献
J-GLOBAL ID:200902165182772519
整理番号:93A0750640
摂動を受けたARMAモデルを用いる最悪ケースl1システムの同定
Worst-case l1 system identification using perturbed ARMA models.
著者 (2件):
MILANESE M
(Politecnico di Torino, Torino, ITA)
,
ELIA N
(Politecnico di Torino, Torino, ITA)
資料名:
IEEE International Symposium on Circuits and Systems
(IEEE International Symposium on Circuits and Systems)
巻:
1993
号:
Vol 1
ページ:
786-789
発行年:
1993年
JST資料番号:
A0757A
ISSN:
0271-4302
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)