文献
J-GLOBAL ID:200902166444804057
整理番号:97A0775374
単一電子素子の高密度集積に使う非対称トンネル障壁の優位性
Advantages of the Asymmetric Tunnel Barrier for High-Density Integration of Single Electron Devices.
著者 (4件):
MATSUMOTO Y
(Toyo Univ., Saitama, JPN)
,
HANAJIRI T
(Toyo Univ., Saitama, JPN)
,
TOYABE T
(Toyo Univ., Saitama, JPN)
,
SUGANO T
(Toyo Univ., Saitama, JPN)
資料名:
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers
(Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻:
36
号:
6B
ページ:
4143-4146
発行年:
1997年06月
JST資料番号:
G0520B
ISSN:
0021-4922
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)