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資料名：
巻： 39 号： 5B ページ： 3121-3124 発行年： 2000年05月30日
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902166510001564
整理番号：00A0582813
走査非線形誘電顕微鏡を用いた極性及び非極性基板上のZnO薄膜の極性の決定
Determination of the Polarities of ZnO Thin Films on Polar and Nonpolar Substrates Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy.
KAZUTA S
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
CHO Y
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
ODAGAWA H
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
KADOTA M
(Murata Mfg. Co., Ltd., Kyoto, JPN)
資料名：
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers
(Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻： 39 号： 5B ページ： 3121-3124 発行年： 2000年05月30日
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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