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文献
J-GLOBAL ID:200902166510001564   整理番号:00A0582813

走査非線形誘電顕微鏡を用いた極性及び非極性基板上のZnO薄膜の極性の決定

Determination of the Polarities of ZnO Thin Films on Polar and Nonpolar Substrates Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy.
著者 (4件):
KAZUTA S
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
CHO Y
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
ODAGAWA H
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
KADOTA M
(Murata Mfg. Co., Ltd., Kyoto, JPN)

資料名:
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers  (Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)

巻: 39  号: 5B  ページ: 3121-3124  発行年: 2000年05月30日 
JST資料番号: G0520B  ISSN: 0021-4922  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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