文献
J-GLOBAL ID:200902166968193276
整理番号:00A0057095
有機金属気相エピタクシーによって成長させた歪制御AlN薄層における結晶品質の残留歪依存性
Dependence of Crystal Quality on Residual Strain in Strain-Controlled Thin AlN Layer Grown by Metalorganic Vapor Phase Epitaxy.
著者 (6件):
ISHIHARA Y
(Kohgakuin Univ., Tokyo, JPN)
,
YAMAMOTO J
(Kohgakuin Univ., Tokyo, JPN)
,
KURIMOTO M
(Kohgakuin Univ., Tokyo, JPN)
,
TAKANO T
(Kohgakuin Univ., Tokyo, JPN)
,
HONDA T
(Kohgakuin Univ., Tokyo, JPN)
,
KAWANISHI H
(Kohgakuin Univ., Tokyo, JPN)
資料名:
Japanese Journal of Applied Physics. Part 2. Letters
(Japanese Journal of Applied Physics. Part 2. Letters)
巻:
38
号:
11B
ページ:
L1296-L1298
発行年:
1999年11月15日
JST資料番号:
F0599B
ISSN:
0021-4922
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)