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著者 (5件)：
資料名：
巻： 76 号： 6 ページ： 835-843 発行年： 1993年06月
JST資料番号： S0621A ISSN： 0913-5707 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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文献
J-GLOBAL ID：200902167571042570
整理番号：93A0588266
論理関数処理に基づく順序回路のテスト生成法
Test Generation for Sequential Circuits Based on Boolean Function Manipulation.
CHOI H
(大阪大 工)
,
小原隆司
(大阪大 工)
,
石浦菜岐佐
(大阪大 工)
,
白川功
(大阪大 工)
,
本原章
(松下電器産業)
資料名：
電子情報通信学会論文誌 A
(IEICE Transaction on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences (Japan Edition))
巻： 76 号： 6 ページ： 835-843 発行年： 1993年06月
JST資料番号： S0621A ISSN： 0913-5707 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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