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著者 (1件)：
資料名：
巻： 32 号： 19 ページ： 3438-3441 発行年： 1993年07月01日
JST資料番号： B0026B ISSN： 1559-128X CODEN： APOPAI 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902167735399075
整理番号：93A0682679
粗い表面に対する干渉法によるプロフィラ
Interferometric profiler for rough surfaces.
CABER P J
(WYKO Corp., Arizona)
資料名：
Applied Optics
(Applied Optics)
巻： 32 号： 19 ページ： 3438-3441 発行年： 1993年07月01日
JST資料番号： B0026B ISSN： 1559-128X CODEN： APOPAI 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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