文献
J-GLOBAL ID:200902167795511842
整理番号:95A0348039
プラズマ分光用XUVスペクトロメータのその場感度較正 分岐比法と衝突放射モデル
In situ sensitivity calibration of an XUV spectrometer for plasma spectroscopy: Branching ratio method and collisional-radiative model.
著者 (8件):
KAWACHI T
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
SUEMITSU H
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
SAWADA K
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
FUJIMOTO T
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
MAEHARA T
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
YOSHIMURA S
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
MAEKAWA T
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
TERUMICHI Y
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
資料名:
Review of Scientific Instruments
(Review of Scientific Instruments)
巻:
66
号:
2 Pt 1
ページ:
1042-1046
発行年:
1995年02月
JST資料番号:
D0517A
ISSN:
0034-6748
CODEN:
RSINAK
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)