文献
J-GLOBAL ID:200902168999595987
整理番号:95A0854455
Evaluation of chemically amplified resist based on adamantyl methacrylate for 193nm lithography.
著者 (6件):
TAKAHASHI M
(Fujitsu Ltd., Kawasaki, JPN)
,
TAKECHI S
(Fujitsu Ltd., Kawasaki, JPN)
,
KAIMOTO Y
(Fujitsu Ltd., Kawasaki, JPN)
,
HANYU I
(Fujitsu Ltd., Kawasaki, JPN)
,
ABE N
(Fujitsu Ltd., Kawasaki, JPN)
,
NOZAKI K
(Fujitsu Lab. Ltd., Atsugi, JPN)
資料名:
Proceedings of SPIE
(Proceedings of SPIE)
巻:
2438
ページ:
422-432
発行年:
1995年
JST資料番号:
D0943A
ISSN:
0277-786X
CODEN:
PSISDG
資料種別:
会議録 (C)
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)