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文献
J-GLOBAL ID:200902168999595987   整理番号:95A0854455

Evaluation of chemically amplified resist based on adamantyl methacrylate for 193nm lithography.

著者 (6件):
TAKAHASHI M
(Fujitsu Ltd., Kawasaki, JPN)
TAKECHI S
(Fujitsu Ltd., Kawasaki, JPN)
KAIMOTO Y
(Fujitsu Ltd., Kawasaki, JPN)
HANYU I
(Fujitsu Ltd., Kawasaki, JPN)
ABE N
(Fujitsu Ltd., Kawasaki, JPN)
NOZAKI K
(Fujitsu Lab. Ltd., Atsugi, JPN)

資料名:
Proceedings of SPIE  (Proceedings of SPIE)

巻: 2438  ページ: 422-432  発行年: 1995年 
JST資料番号: D0943A  ISSN: 0277-786X  CODEN: PSISDG  資料種別: 会議録 (C)
発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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