文献
J-GLOBAL ID:200902169032004284
整理番号:01A0265881
二つの低温冷却したサファイア発振器の安定性と位相雑音試験
Stability and Phase Noise Tests of Two Cryo-Cooled Sapphire Oscillators.
著者 (2件):
DICK G J
(California Inst. Technol., CA)
,
WANG R T
(California Inst. Technol., CA)
資料名:
IEEE Transactions on Ultrasonics, Ferroelectrics, and Frequency Control
(IEEE Transactions on Ultrasonics, Ferroelectrics, and Frequency Control)
巻:
47
号:
5
ページ:
1098-1101
発行年:
2000年09月
JST資料番号:
H0369A
ISSN:
0885-3010
CODEN:
ITUCER
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)