文献
J-GLOBAL ID:200902170489866891
整理番号:93A0511480
原子間力顕微鏡を用いた熱画像観察
Thermal imaging using the atomic force microscope.
著者 (3件):
MAJUMDAR A
(Univ. California, California)
,
CARREJO J P
(Motorola Inc., Arizona)
,
LAI J
(Univ. California, California)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
62
号:
20
ページ:
2501-2503
発行年:
1993年05月17日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)