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文献
J-GLOBAL ID:200902171865409517   整理番号:02A0583024

原子間力顕微鏡を用いた合成スメクタイトに対する表面力の直接測定

Direct Surface Force Measurement for Synthetic Smectites Using the Atomic Force Microscope.
著者 (5件):
NISHIMURA S
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Saga, JPN)
KODAMA M
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Saga, JPN)
YAO K
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Saga, JPN)
IMAI Y
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Saga, JPN)
TATEYAMA H
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Saga, JPN)

資料名:
Langmuir  (Langmuir)

巻: 18  号: 12  ページ: 4681-4688  発行年: 2002年06月11日 
JST資料番号: A0231B  ISSN: 0743-7463  CODEN: LANGD5  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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