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著者 (3件)：
資料名：
巻： 49 号： 1 ページ： 67-72 発行年： 2000年
JST資料番号： G0104A ISSN： 0022-0744 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902172636342740
整理番号：00A0327353
酸化インジウム-すず薄膜におけるSnの結晶粒界偏析
On the grain boundary segregation of Sn in indium-tin-oxide thin films.
MORIKAWA H
(Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN)
,
KURATA H
(Japan Atomic Energy Res. Inst., Ibaraki, JPN)
,
FUJITA M
(Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN)
資料名：
Journal of Electron Microscopy
(Journal of Electron Microscopy)
巻： 49 号： 1 ページ： 67-72 発行年： 2000年
JST資料番号： G0104A ISSN： 0022-0744 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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