文献
J-GLOBAL ID:200902173899689139
整理番号:01A0694080
高内部利得をもつ背面照射型のGaNの金属-半導体-金属のUV光検出器
Back-Illuminated GaN Metal-Semiconductor-Metal UV Photodetector with High Internal Gain.
著者 (8件):
JIANG H
(Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN)
,
NAKATA N
(Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN)
,
ZHAO G Y
(Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN)
,
ISHIKAWA H
(Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN)
,
SHAO C L
(Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN)
,
EGAWA T
(Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN)
,
JIMBO T
(Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN)
,
UMENO M
(Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN)
資料名:
Japanese Journal of Applied Physics. Part 2. Letters
(Japanese Journal of Applied Physics. Part 2. Letters)
巻:
40
号:
5B
ページ:
L505-L507
発行年:
2001年05月15日
JST資料番号:
F0599B
ISSN:
0021-4922
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)