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著者 (9件)：
資料名：
巻： 79 号： 6 ページ： 833-835 発行年： 2001年08月06日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902175181864342
整理番号：01A0835770
ポリフルオレンをベースにした共役半導体の相分離混合物の紫外-可視近接場顕微鏡測定
Ultraviolet-visible near-field microscopy of phase-separated blends of polyfluorene-based conjugated semiconductors.
STEVENSON R
(Cavendish Lab., Cambridge, GBR)
,
RIEHN R
(Cavendish Lab., Cambridge, GBR)
,
MILNER R G
(Cavendish Lab., Cambridge, GBR)
,
RICHARDS D
(Cavendish Lab., Cambridge, GBR)
,
MOONS E
(Karlstad Univ., SWE)
,
KANG D-J
(Dep. Materials Sci. and Metallurgy, Cambridge, GBR)
,
BLAMIRE M
(Dep. Materials Sci. and Metallurgy, Cambridge, GBR)
,
MORGADO J
(Inst. Superior Tecnico, Lisboa, PRT)
,
CACIALLI F
(Cavendish Lab., Cambridge, GBR)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 79 号： 6 ページ： 833-835 発行年： 2001年08月06日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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