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文献
J-GLOBAL ID:200902175354579371   整理番号:98A0852204

シリコンの熱安定性 193nmリソグラフィー用のメタクリル樹脂系二層レジストの含有

Thermal Stability of Silicon-Containing Methacrylate Based Bilayer Resist for 193nm Lithography.
著者 (4件):
WHITE D
(Olin Microelectronic Materials, RI)
BEAUCHEMIN B T JR
(Olin Microelectronic Materials, RI)
BLAKENEY A J
(Olin Microelectronic Materials, RI)
STEINHAEUSLER T
(Olin Microelectronic Materials, RI)

資料名:
Proceedings of SPIE  (Proceedings of SPIE)

巻: 3333  号: Pt.1  ページ: 132-143  発行年: 1998年 
JST資料番号: D0943A  ISSN: 0277-786X  CODEN: PSISDG  資料種別: 会議録 (C)
発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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