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文献
J-GLOBAL ID:200902177391083028   整理番号:02A0599599

走査型SQUID顕微鏡を用いた組成広がり酸化マンガン薄膜の高スループット評価

High-throughput characterization of composition-spread manganese oxide films with a scanning SQUID microscope.
著者 (9件):
HASEGAWA T
(Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN)
KAGEYAMA T
(Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN)
FUKUMURA T
(Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN)
OKAZAKI N
(Combinatorial Materials Exploration and Technol. (COMET), Yokohama, JPN)
KAWASAKI M
(Combinatorial Materials Exploration and Technol. (COMET), Yokohama, JPN)
KOINUMA H
(Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN)
YOO Y K
(Lawrence Berkeley National Lab., CA, USA)
DUEWER F
(Lawrence Berkeley National Lab., CA, USA)
XIANG X-D
(Lawrence Berkeley National Lab., CA, USA)

資料名:
Applied Surface Science  (Applied Surface Science)

巻: 189  号: 3/4  ページ: 210-215  発行年: 2002年04月28日 
JST資料番号: B0707B  ISSN: 0169-4332  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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