文献
J-GLOBAL ID:200902177507146073
整理番号:98A0672168
X線によるセラミック膜の応力こう配の解析
Analysis of Stress Gradient in Ceramic Film by X-ray Method.
著者 (3件):
SUZUKI K
(Niigata Univ., Niigata, JPN)
,
TANAKA K
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
,
SAKAIDA Y
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
資料名:
JSME International Journal. Series A. Solid Mechanics and Material Engineering (Japan Society of Mechanical Engineers)
(JSME International Journal. Series A. Solid Mechanics and Material Engineering (Japan Society of Mechanical Engineers))
巻:
41
号:
3
ページ:
416-421
発行年:
1998年07月
JST資料番号:
G0026B
ISSN:
1344-7912
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)