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文献
J-GLOBAL ID:200902177602353418   整理番号:99A0112797

Ti/Al多重層ソーンプレートおよびBragg-FresnelレンズによるX線微細集束

X-ray microfocusing by Ti/Al multilayer zone plate and Bragg-Fresnel lens.
著者 (3件):
KOIKE M
(Electrotechnical Lab., Ibaraki, JPN)
SUZUKI I H
(Electrotechnical Lab., Ibaraki, JPN)
KOMIYA S
(Fujitsu Lab. Ltd., Kanagawa, JPN)

資料名:
Proceedings of SPIE  (Proceedings of SPIE)

巻: 3449  ページ: 129-132  発行年: 1998年 
JST資料番号: D0943A  ISSN: 0277-786X  CODEN: PSISDG  資料種別: 会議録 (C)
発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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