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著者 (8件)：
資料名：
巻： 84 号： 3 ページ： 1703-1705 発行年： 1998年08月01日
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIAU 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902179873201063
整理番号：98A0779728
X線定在波によるサファイア(0001)上のGaN薄膜の極性決定
Polarity determination of a GaN thin film on sapphire (0001) with x-ray standing waves.
KAZIMIROV A
(Max-Planck-Inst. Festkoerperforsch., Stuttgart, DEU)
,
SCHERB G
(Max-Planck-Inst. Festkoerperforsch., Stuttgart, DEU)
,
ZEGENHAGEN J
(Max-Planck-Inst. Festkoerperforsch., Stuttgart, DEU)
,
LEE T-L
,
BEDZYK M J
,
KELLY M K
(Technische Univ. Muenchen, Garching, DEU)
,
ANGERER H
(Technische Univ. Muenchen, Garching, DEU)
,
AMBACHER O
(Technische Univ. Muenchen, Garching, DEU)
資料名：
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻： 84 号： 3 ページ： 1703-1705 発行年： 1998年08月01日
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIAU 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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