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文献
J-GLOBAL ID:200902180646637546   整理番号:97A0764502

The phase spectrum-based measurement of the TEM parameters.

著者 (3件):
ICHISE N
(Kogakuin Univ., Tokyo, JPN)
BABA N
(Kogakuin Univ., Tokyo, JPN)
NAGASHIMA H
(Kogakuin Univ., Tokyo, JPN)

資料名:
Ultramicroscopy  (Ultramicroscopy)

巻: 68  号:ページ: 181-200  発行年: 1997年07月 
JST資料番号: W0972A  ISSN: 0304-3991  CODEN: ULTRD  資料種別: 逐次刊行物 (A)
発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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