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著者 (2件)：
資料名：
巻： 48 号： 6 ページ： 1640-1647 発行年： 2001年11月
JST資料番号： H0369A ISSN： 0885-3010 CODEN： ITUCER 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902181451555436
整理番号：02A0127870
Ba0.5Sr0.5TiO3薄膜のマイクロ波特性の測定におけるウェーハ上TRL較正の応用
Application of On-Wafer TRL Calibration on the Measurement of Microwave Properties of Ba0.5Sr0.5TiO3 Thin Films.
LUE H-T
(National Chiao Tung Univ., Hsinchu, TWN)
,
TSENG T-Y
(National Chiao Tung Univ., Hsinchu, TWN)
資料名：
IEEE Transactions on Ultrasonics, Ferroelectrics, and Frequency Control
(IEEE Transactions on Ultrasonics, Ferroelectrics, and Frequency Control)
巻： 48 号： 6 ページ： 1640-1647 発行年： 2001年11月
JST資料番号： H0369A ISSN： 0885-3010 CODEN： ITUCER 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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