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著者 (6件)：
資料名：
巻： 71 号： 7 ページ： 2781-2783 発行年： 2000年07月
JST資料番号： D0517A ISSN： 0034-6748 CODEN： RSINAK 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902182146738519
整理番号：00A0849875
伝導度測定のための走査型ナノスケール-マルチプローブ
Scanning nanoscale multiprobes for conductivity measurements.
BOGGILD P
(Technical Univ. Denmark, Lyngby, DNK)
,
HANSEN T M
(Technical Univ. Denmark, Lyngby, DNK)
,
KUHN O
(Technical Univ. Denmark, Lyngby, DNK)
,
GREY F
(Technical Univ. Denmark, Lyngby, DNK)
,
JUNNO T
(Lund Univ., Lund, SWE)
,
MONTELIUS L
(Lund Univ., Lund, SWE)
資料名：
Review of Scientific Instruments
(Review of Scientific Instruments)
巻： 71 号： 7 ページ： 2781-2783 発行年： 2000年07月
JST資料番号： D0517A ISSN： 0034-6748 CODEN： RSINAK 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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