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文献
J-GLOBAL ID:200902183565631747   整理番号:97A1019202

SrBi2Ta2O9膜の低温形成とAl/SrBi2Ta2O9/CeO2/Si(100)構造による金属/強誘電体/絶縁体/半導体電界効果トランジスタの作製

Preparation of SrBi2Ta2O9 Film at Low Temperatures and Fabrication of a Metal/Ferroelectric/Insulator/Semiconductor Field Effect Transistor Using Al/SrBi2Ta2O9/CeO2/Si(100) Structures.
著者 (5件):
HIRAI T
(Asahi Chemical Ind. Co., Ltd., Shizuoka, JPN)
FUJISAKI Y
(Waseda Univ., Tokyo, JPN)
NAGASHIMA K
(Waseda Univ., Tokyo, JPN)
KOIKE H
(Waseda Univ., Tokyo, JPN)
TARUI Y
(Waseda Univ., Tokyo, JPN)

資料名:
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers  (Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)

巻: 36  号: 9B  ページ: 5908-5911  発行年: 1997年09月 
JST資料番号: G0520B  ISSN: 0021-4922  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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