文献
J-GLOBAL ID:200902183811700532
整理番号:01A0772417
Cu-Zr膜のアニーリングによるSiO2上のCu(111)単一配向状態の実現とCu-Zr/ZrN/Zr/Si接触系の熱安定性
Realization of Cu(111) Single-Oriented State on SiO2 by Annealing Cu-Zr Film and the Thermal Stability of Cu-Zr/ZrN/Zr/Si Contact System.
著者 (5件):
SASAKI K
(Kitami Inst. Technol., Kitami, JPN)
,
MIYAKE H
(Kitami Inst. Technol., Kitami, JPN)
,
SHINKAI S
(Kitami Inst. Technol., Kitami, JPN)
,
ABE Y
(Kitami Inst. Technol., Kitami, JPN)
,
YANAGISAWA H
(Kitami Inst. Technol., Kitami, JPN)
資料名:
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers
(Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻:
40
号:
7
ページ:
4661-4665
発行年:
2001年07月15日
JST資料番号:
G0520B
ISSN:
0021-4922
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)