文献
J-GLOBAL ID:200902186318144573
整理番号:02A0128109
高速複屈折測定に基づく近接場走査光学顕微鏡
Fusion of Optoelectronics and High Voltage Engineering. Near-field Scanning Optical Microscope Based on Fast Birefringence Measurement.
著者 (2件):
OHKUBO S
(Tokyo Univ. Argiculture and Technol., Tokyo, JPN)
,
UMEDA N
(Tokyo Univ. Argiculture and Technol., Tokyo, JPN)
資料名:
Sensors and Materials
(Sensors and Materials)
巻:
13
号:
8
ページ:
433-443
発行年:
2001年
JST資料番号:
L0338A
ISSN:
0914-4935
CODEN:
SENMER
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)