文献
J-GLOBAL ID:200902189271181440
整理番号:95A0095981
写真中の誘電損失測定の解釈のためのモデルに対する批判的検討
A Critical Examination of Models for the Interpretation of Dielectric Loss Measurements in Photography.
著者 (2件):
HEIECK J
(Univ. Frankfurt, Frankfurt, DEU)
,
GRANZER F
(Univ. Frankfurt, Frankfurt, DEU)
資料名:
Journal of Imaging Science and Technology
(Journal of Imaging Science and Technology)
巻:
38
号:
5
ページ:
464-474
発行年:
1994年09月
JST資料番号:
D0429B
ISSN:
1062-3701
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)