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文献
J-GLOBAL ID:200902189542197762   整理番号:97A0850939

193nmリソグラフィーのための化学的増幅型レジストの酸性増幅

Acid amplification of chemically amplified resists for 193nm lithography.
著者 (7件):
OHFUJI T
(ASET, Kanagawa, JPN)
TAKAHASHI M
(ASET, Kanagawa, JPN)
KUHARA K
(ASET, Kanagawa, JPN)
OGAWA T
(ASET, Kanagawa, JPN)
OHTSUKA H
(ASET, Kanagawa, JPN)
SASAGO M
(ASET, Kanagawa, JPN)
ICHIMURA K
(Tokyo Inst. Technol., Kanagawa, JPN)

資料名:
Proceedings of SPIE  (Proceedings of SPIE)

巻: 3049  ページ: 76-82  発行年: 1997年 
JST資料番号: D0943A  ISSN: 0277-786X  CODEN: PSISDG  資料種別: 会議録 (C)
発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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