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著者 (2件)：
資料名：
巻： 45 号： 5 ページ： 417-427 発行年： 1996年10月
JST資料番号： G0104A ISSN： 0022-0744 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902189942297898
整理番号：97A0019539
TEMに装備した高分解能EELS用Wienフィルタの電子軌道シミュレーション
Simulation of Electron Trajectories of Wien Filter for High-Resolution EELS Installed in TEM.
TSUNO K
(JEOL Ltd., Tokyo, JPN)
,
ROUSE J
(Munro’s Electron Beam Software Ltd., London, GBR)
資料名：
Journal of Electron Microscopy
(Journal of Electron Microscopy)
巻： 45 号： 5 ページ： 417-427 発行年： 1996年10月
JST資料番号： G0104A ISSN： 0022-0744 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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