文献
J-GLOBAL ID:200902191325210682
整理番号:99A0609566
H2プラズマ処理によるkの小さいメチルシルセスキオキサンの酸素プラズマ耐性の増強
Enhancing the Oxygen Plasma Resistance of Low-k Methylsilsesquioxane by H2 Plasma Traeatment.
著者 (4件):
LIU P-T
(National Chiao Tung Univ., Hsin Chu, TWN)
,
CHANG T-C
(National Nano Device Lab., Hsin Chu, TWN)
,
MOR Y-S
(National Chiao Tung Univ., Hsin Chu, TWN)
,
SZE S M
(National Chiao Tung Univ., Hsin Chu, TWN)
資料名:
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers
(Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻:
38
号:
6A
ページ:
3482-3486
発行年:
1999年06月15日
JST資料番号:
G0520B
ISSN:
0021-4922
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)