文献
J-GLOBAL ID:200902192439600770
整理番号:96A0807916
サファイア基板上の良質なAlNとAlN/GaN/AlNヘテロ構造の成長
Growth of High-Quality AlN and AlN/GaN/AlN Heterostructure on Sapphire Substrate.
著者 (2件):
OHBA Y
(Toshiba Corp., Kawasaki, JPN)
,
HATANO A
(Toshiba Corp., Kawasaki, JPN)
資料名:
Japanese Journal of Applied Physics. Part 2. Letters
(Japanese Journal of Applied Physics. Part 2. Letters)
巻:
35
号:
8B
ページ:
L1013-L1015
発行年:
1996年08月15日
JST資料番号:
F0599B
ISSN:
0021-4922
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)