文献
J-GLOBAL ID:200902193649551450
整理番号:02A0239537
Atomic Layer Growth and Characterization of ZnO Thin Films.
著者 (7件):
SAITO K
(Teikyo Univ. Sci. and Technol., Yamanashi, JPN)
,
YAMAMOTO Y
(Teikyo Univ. Sci. and Technol., Yamanashi, JPN)
,
MATSUDA A
(Teikyo Univ. Sci. and Technol., Yamanashi, JPN)
,
IZUMI S
(Teikyo Univ. Sci. and Technol., Yamanashi, JPN)
,
UCHINO T
(Teikyo Univ. Sci. and Technol., Yamanashi, JPN)
,
ISHIDA K
(Teikyo Univ. Sci. and Technol., Yamanashi, JPN)
,
TAKAHASHI K
(Teikyo Univ. Sci. and Technol., Yamanashi, JPN)
資料名:
Physica Status Solidi. B. Basic Research
(Physica Status Solidi. B. Basic Research)
巻:
229
号:
2
ページ:
925-929
発行年:
2002年01月08日
JST資料番号:
C0599A
ISSN:
0370-1972
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
ドイツ (DEU)
言語:
英語 (EN)