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文献
J-GLOBAL ID:200902193649551450   整理番号:02A0239537

Atomic Layer Growth and Characterization of ZnO Thin Films.

著者 (7件):
SAITO K
(Teikyo Univ. Sci. and Technol., Yamanashi, JPN)
YAMAMOTO Y
(Teikyo Univ. Sci. and Technol., Yamanashi, JPN)
MATSUDA A
(Teikyo Univ. Sci. and Technol., Yamanashi, JPN)
IZUMI S
(Teikyo Univ. Sci. and Technol., Yamanashi, JPN)
UCHINO T
(Teikyo Univ. Sci. and Technol., Yamanashi, JPN)
ISHIDA K
(Teikyo Univ. Sci. and Technol., Yamanashi, JPN)
TAKAHASHI K
(Teikyo Univ. Sci. and Technol., Yamanashi, JPN)

資料名:
Physica Status Solidi. B. Basic Research  (Physica Status Solidi. B. Basic Research)

巻: 229  号:ページ: 925-929  発行年: 2002年01月08日 
JST資料番号: C0599A  ISSN: 0370-1972  資料種別: 逐次刊行物 (A)
発行国: ドイツ (DEU)  言語: 英語 (EN)
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