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著者 (2件)：
資料名：
巻： E82-C 号： 2 ページ： 387-392 発行年： 1999年02月
JST資料番号： L1370A ISSN： 0916-8524 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902195127829214
整理番号：99A0266342
LSI設計レイアウト中のテストパッド配置によるEビーム可観測性の改良
Improvement of E-Beam Observability by Testing-Pad Placement in LSI Design Layout.
KUJI N
(NTT System Electronics Lab., Atsugi-shi, JPN)
,
TAKEDA T
(NTT System Electronics Lab., Atsugi-shi, JPN)
資料名：
IEICE Transactions on Electronics (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)
(IEICE Transactions on Electronics (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： E82-C 号： 2 ページ： 387-392 発行年： 1999年02月
JST資料番号： L1370A ISSN： 0916-8524 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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