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資料名：
巻： 79 号： 12 ページ： 1882-1884 発行年： 2001年09月17日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902196815289513
整理番号：01A0976291
原子間力顕微鏡を用いた自然の酸化物層の引っかきによるSi(100)表面のナノスケールのパターンづけ
Nanoscale patterning of Si(100) surfaces by scratching through the native oxide layer using atomic force microscope.
SANTINACCI L
(Univ. Erlangen-Nuremberg, Erlangen, DEU)
,
DJENIZIAN T
(Univ. Erlangen-Nuremberg, Erlangen, DEU)
,
SCHMUKI P
(Univ. Erlangen-Nuremberg, Erlangen, DEU)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 79 号： 12 ページ： 1882-1884 発行年： 2001年09月17日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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