文献
J-GLOBAL ID:200902198478864040
整理番号:99A0548795
角度分解紫外光電子分光と低エネルギー電子回折で調べたMoS2上の銅-及びH2-フタロシアニン薄膜の構造
Structure of copper- and H2-phthalocyanine thin films on MoS2 studied by angle-resolved ultraviolet photoelectron spectroscopy and low energy electron diffraction.
著者 (6件):
OKUDAIRA K K
(Chiba Univ., Chiba, JPN)
,
HASEGAWA S
(Inst. Molecular Sci., Okazaki, JPN)
,
ISHII H
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
,
SEKI K
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
,
HARADA Y
(Chiba Univ., Chiba, JPN)
,
UENO N
(Inst. Molecular Sci., Okazaki, JPN)
資料名:
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻:
85
号:
9
ページ:
6453-6461
発行年:
1999年05月01日
JST資料番号:
C0266A
ISSN:
0021-8979
CODEN:
JAPIAU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)