文献
J-GLOBAL ID:200902200726261734
整理番号:03A0685433
走査型非線形誘電率顕微鏡によるPbZr0.2Ti0.8O3薄膜の分域壁観察
Observation of domain walls in PbZr0.2Ti0.8O3 thin film using scanning nonlinear dielectric microscopy
著者 (3件):
MATSUURA K
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
CHO Y
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
RAMESH R
(Univ. Maryland, Maryland)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
83
号:
13
ページ:
2650-2652
発行年:
2003年09月29日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)