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著者 (5件)：
資料名：
巻： 43 号： 5A ページ： 2602-2606 発行年： 2004年05月15日
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902200940268487
整理番号：04A0442443
分子線エピタキシーによって成長させたZnO膜の真性欠陥
Intrinsic Defects in ZnO Films Grown by Molecular Beam Epitaxy
TATSUMI T
(Waseda Univ., Tokyo, JPN)
,
FUJITA M
(Waseda Univ., Tokyo, JPN)
,
KAWAMOTO N
(Waseda Univ., Tokyo, JPN)
,
SASAJIMA M
(Waseda Univ., Tokyo, JPN)
,
HORIKOSHI Y
(Waseda Univ., Tokyo, JPN)
資料名：
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers
(Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻： 43 号： 5A ページ： 2602-2606 発行年： 2004年05月15日
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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