文献
J-GLOBAL ID:200902203535764433
整理番号:06A0530619
走査型トンネル顕微鏡を用いる点接触法による単一分子の伝導率で観測されたS/Seアンカリングの結合ゆらぎ
Bond Fluctuation of S/Se Anchoring Observed in Single-Molecule Conductance Measurements using the Point Contact Method with Scanning Tunneling Microscopy
著者 (8件):
YASUDA Satoshi
,
YOSHIDA Shoji
,
SASAKI Jiro
,
OKUTSU Yoshitaka
,
NAKAMURA Tohru
(National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Tsukuba, JPN)
,
TANINAKA Atsushi
,
TAKEUCHI Osamu
,
SHIGEKAWA Hidemi
資料名:
Journal of the American Chemical Society
(Journal of the American Chemical Society)
巻:
128
号:
24
ページ:
7746-7747
発行年:
2006年06月21日
JST資料番号:
C0254A
ISSN:
0002-7863
CODEN:
JACSAT
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)