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文献
J-GLOBAL ID:200902203862785452   整理番号:05A0155184

X線光電子回折による高温でのZr-O/W(100)の表面構造分析

Surface structure analysis of Zr-O/W(100) at high temperature by x-ray photoelectron diffraction
著者 (9件):
TAMURA K
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
AMANO M
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
CHU W-G
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
KAWANO T
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
NAGATOMI T
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
TAKAI Y
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
OSHIMA C
(Waseda Univ., Tokyo, JPN)
SHIMIZU R
(Osaka Inst. of Technol., Osaka, JPN)
NIHEI Y
(Sci. Univ. Tokyo, Chiba, JPN)

資料名:
Surface and Interface Analysis  (Surface and Interface Analysis)

巻: 37  号:ページ: 217-220  発行年: 2005年02月 
JST資料番号: E0709A  ISSN: 0142-2421  CODEN: SIANDQ  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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