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文献
J-GLOBAL ID:200902204915546990   整理番号:03A0338349

SiCのスライシングおよび研磨加工に伴う欠陥に関する研究

Research on crystalline defects introduced by slicing and polishing SiC polycrystalline.
著者 (3件):
河合伸泰
(福井工大)
後藤徹
(福井工大)
脇浜智
(福井工大 大学院)

資料名:
福井工業大学研究紀要  (Memoirs of Fukui University of Technology)

号: 33 第1部  ページ: 111-118  発行年: 2003年03月20日 
JST資料番号: X0305A  ISSN: 0286-8571  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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