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文献
J-GLOBAL ID:200902206143481009   整理番号:06A0421108

結晶方位に依存する湿式エッチングによって作製した(111)チャネル表面を持つ多重フィン型二重ゲート金属-酸化物-半導体電界効果トランジスタの有効キャリア移動度の実験的研究

Experimental Study of Effective Carrier Mobility of Multi-Fin-Type Double-Gate Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistors with (111) Channel Surface Fabricated by Orientation-Dependent Wet Etching
著者 (9件):
LIU Yongxun
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Ibaraki, JPN)
SUGIMATA Etsuro
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Ibaraki, JPN)
ISHII Kenichi
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Ibaraki, JPN)
MASAHARA Meishoku
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Ibaraki, JPN)
ENDO Kazuhiko
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Ibaraki, JPN)
MATSUKAWA Takashi
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Ibaraki, JPN)
YAMAUCHI Hiromi
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Ibaraki, JPN)
O’UCHI Shinichi
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Ibaraki, JPN)
SUZUKI Eiichi
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Ibaraki, JPN)

資料名:
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers  (Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)

巻: 45  号: 4B  ページ: 3084-3087  発行年: 2006年04月30日 
JST資料番号: G0520B  ISSN: 0021-4922  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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